菲希爾x射線測厚儀XDL240產品介紹
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
簡介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 全自動測量，如測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
XDL 240 有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅動的 XY 工作臺，當測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達驅動的 Z 軸系統，可編程運行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精確調整。
所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能
強大而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。
XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規的規定。
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